<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xml:lang="ru" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:noNamespaceSchemaLocation="https://metafora.rcsi.science/xsd_files/journal3.xsd">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">moitvivt</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="ru">Моделирование, оптимизация и информационные технологии</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="en">
          <trans-title>Modeling, Optimization and Information Technology</trans-title>
        </trans-title-group>
      </journal-title-group>
      <issn pub-type="epub">2310-6018</issn>
      <publisher>
        <publisher-name>Издательство</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="doi">10.26102/2310-6018/2026.53.2.013</article-id>
      <article-id pub-id-type="custom" custom-type="elpub">2188</article-id>
      <title-group>
        <article-title xml:lang="ru">Модифицированный алгоритм имитации отжига для задачи диагностики отказов аналоговых радиоэлектронных устройств</article-title>
        <trans-title-group xml:lang="en">
          <trans-title>A modified algorithm for simulated annealing for the task of diagnosing failures of analog electronic devices</trans-title>
        </trans-title-group>
      </title-group>
      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name name-style="eastern" xml:lang="ru">
              <surname>Увайсов</surname>
              <given-names>Сайгид Увайсович</given-names>
            </name>
            <name name-style="western" xml:lang="en">
              <surname>Uvaysov</surname>
              <given-names>Saygid Uvaysovich</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>uvajsov@mirea.ru</email>
          <xref ref-type="aff">aff-1</xref>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <contrib-id contrib-id-type="orcid">0009-0009-6311-7648</contrib-id>
          <name-alternatives>
            <name name-style="eastern" xml:lang="ru">
              <surname>Черноверская</surname>
              <given-names>Виктория Владимировна</given-names>
            </name>
            <name name-style="western" xml:lang="en">
              <surname>Chernoverskaya</surname>
              <given-names>Viktoria Vladimirovna</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>v_chernoverskaya@mail.ru</email>
          <xref ref-type="aff">aff-2</xref>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name name-style="eastern" xml:lang="ru">
              <surname>Хай</surname>
              <given-names>Нгуен Дык</given-names>
            </name>
            <name name-style="western" xml:lang="en">
              <surname>Hai</surname>
              <given-names>Nguyen Duc</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>duchai09011997@gmail.com</email>
          <xref ref-type="aff">aff-3</xref>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name name-style="eastern" xml:lang="ru">
              <surname>Хай</surname>
              <given-names>Во Тхе</given-names>
            </name>
            <name name-style="western" xml:lang="en">
              <surname>Hai</surname>
              <given-names>Vo The</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>thehai.ttrd@gmail.com</email>
          <xref ref-type="aff">aff-4</xref>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name name-style="eastern" xml:lang="ru">
              <surname>Фам</surname>
              <given-names>Суан Хань</given-names>
            </name>
            <name name-style="western" xml:lang="en">
              <surname>Pham</surname>
              <given-names>Xuan Thanh</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>phamxuanhanhld161@gmail.com</email>
          <xref ref-type="aff">aff-5</xref>
        </contrib>
      </contrib-group>
      <aff-alternatives id="aff-1">
        <aff xml:lang="ru">МИРЭА - Российский технологический университет</aff>
        <aff xml:lang="en">MIREA – Russian Technological University</aff>
      </aff-alternatives>
      <aff-alternatives id="aff-2">
        <aff xml:lang="ru">МИРЭА - Российский технологический университет</aff>
        <aff xml:lang="en">MIREA – Russian Technological University</aff>
      </aff-alternatives>
      <aff-alternatives id="aff-3">
        <aff xml:lang="ru">МИРЭА - Российский технологический университет</aff>
        <aff xml:lang="en">MIREA – Russian Technological University</aff>
      </aff-alternatives>
      <aff-alternatives id="aff-4">
        <aff xml:lang="ru">МИРЭА - Российский технологический университет</aff>
        <aff xml:lang="en">MIREA – Russian Technological University</aff>
      </aff-alternatives>
      <aff-alternatives id="aff-5">
        <aff xml:lang="ru">МИРЭА - Российский технологический университет</aff>
        <aff xml:lang="en">MIREA – Russian Technological University</aff>
      </aff-alternatives>
      <pub-date pub-type="epub">
        <day>01</day>
        <month>01</month>
        <year>2026</year>
      </pub-date>
      <volume>1</volume>
      <issue>1</issue>
      <elocation-id>10.26102/2310-6018/2026.53.2.013</elocation-id>
      <permissions>
        <copyright-statement>Copyright © Авторы, 2026</copyright-statement>
        <copyright-year>2026</copyright-year>
        <license license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
          <license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License</license-p>
        </license>
      </permissions>
      <self-uri xlink:href="https://moitvivt.ru/ru/journal/article?id=2188"/>
      <abstract xml:lang="ru">
        <p>В статье приведены результаты исследования, в ходе которого был разработан новый метод автоматизированной диагностики функциональных узлов радиоэлектронных устройств с целью выявления в них параметрических отказов компонентов, обрывов электрических соединений, обнаружения коротких замыканий. Актуальность исследования обусловлена постоянно возрастающей сложностью современной электроники, когда традиционные методы диагностики не обеспечивают необходимой точности и оперативности диагностических процедур, что ведет к росту отказов аппаратуры при эксплуатации и увеличению затрат на ее обслуживание и ремонт. В основе предложенного метода лежит широко известный алгоритм имитации отжига, который был адаптирован под решение задач диагностики неисправностей радиоэлектронных устройств. Цель – предложить новый метод диагностики отказов радиоэлектронной аппаратуры, основанный на модифицированном алгоритме имитации отжига, нацеленном на повышение достоверности идентификации неисправностей, возникающих в узлах и модулях при эксплуатации современной электроники, а также повысить степень автоматизации диагностических процедур. Физические и модельные эксперименты, проведенные в ходе исследования, показали, что предложенный метод на основе модифицированного алгоритма эффективно определяет ряд отказов, включая сложные случаи последовательных отказов, идентифицировать которые традиционными методами не было возможности. Кроме этого, предложенный подход требует меньших временных затрат на анализ и дает возможность повысить достоверность диагностики исследуемых узлов и модулей электронной аппаратуры. Полученные результаты подтверждают перспективность применения метода в задачах технической диагностики, в том числе его дальнейшую интеграцию в автоматизированные системы контроля радиоэлектронной аппаратуры.</p>
      </abstract>
      <trans-abstract xml:lang="en">
        <p>The article presents the results of a study that developed a new method for automated diagnostics of functional components of electronic devices in order to identify parametric component failures, electrical failures, and short circuit detection. The relevance of the study is due to the ever-increasing complexity of modern electronics, when traditional diagnostic methods do not provide the necessary accuracy and efficiency of diagnostic procedures, which leads to an increase in equipment failures during operation and an increase in the cost of its maintenance and repair. The proposed method is based on a well-known algorithm for simulated annealing, which has been adapted to solve the problems of troubleshooting electronic devices. Objective: to propose a new method for diagnosing failures of electronic equipment based on a modified algorithm for simulated annealing, aimed at increasing the reliability of identification of faults occurring in nodes and modules during the operation of modern electronics, as well as to increase the degree of automation of diagnostic procedures. Physical and model experiments conducted during the study showed that the proposed method based on a modified algorithm effectively detects a number of failures, including complex cases of sequential failures that could not be identified using traditional methods. In addition, the proposed approach requires less time for analysis and makes it possible to increase the reliability of diagnostics of the studied nodes and modules of electronic equipment.  The results obtained confirm the promising application of the method in the tasks of technical diagnostics, including its further integration into automated control systems of electronic equipment.</p>
      </trans-abstract>
      <kwd-group xml:lang="ru">
        <kwd>радиоэлектронное устройство</kwd>
        <kwd>диагностика отказов</kwd>
        <kwd>неисправность</kwd>
        <kwd>алгоритм имитации отжига</kwd>
        <kwd>оптимальное решение</kwd>
        <kwd>экстремум функции</kwd>
        <kwd>механизм генерации решений</kwd>
        <kwd>цепь Маркова</kwd>
      </kwd-group>
      <kwd-group xml:lang="en">
        <kwd>electronic device</kwd>
        <kwd>fault diagnosis</kwd>
        <kwd>malfunction</kwd>
        <kwd>annealing simulation algorithm</kwd>
        <kwd>optimal solution</kwd>
        <kwd>function extremum</kwd>
        <kwd>solution generation mechanism</kwd>
        <kwd>Markov chain</kwd>
      </kwd-group>
      <funding-group>
        <funding-statement xml:lang="ru">Исследование выполнено без спонсорской поддержки.</funding-statement>
        <funding-statement xml:lang="en">The study was performed without external funding.</funding-statement>
      </funding-group>
    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <title>References</title>
      <ref id="cit1">
        <label>1</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Увайсов С.У., Черноверская В.В., Нгуен Дык Хай, Во Тхе Хай, Фам Суан Хань. Применение метода отжига в задаче диагностики электрических дефектов аналоговых схем радиоэлектронных устройств. Моделирование, оптимизация и информационные технологии. 2024;12(4). https://doi.org/10.26102/2310-6018/2024.47.4.022</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit2">
        <label>2</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Нгуен Д.Х. Диагностирование неисправностей аналоговых радиоэлектронных устройств методом отжига. Мехатроника, автоматика и робототехника. 2024;(13):172–174. https://doi.org/10.26160/2541-8637-2024-13-172-174</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit3">
        <label>3</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Kirkpatrick S., Gelatt C.D., Vecchi  M.P. Optimization by Simulated Annealing. Science. 1983;220(4598):671–680. https://doi.org/10.1126/science.220.4598.671</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit4">
        <label>4</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Лопатин А.С. Метод отжига. Стохастическая оптимизация в информатике. 2005;1:133–149.</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit5">
        <label>5</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Zhang D., Liu Y., M'Hallah R., Leung S.C.H. A simulated annealing with a new neighborhood structure based algorithm for high school timetabling problems. European Journal of Operational Research. 2010;203(3):550–558. https://doi.org/10.1016/j.ejor.2009.09.014</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit6">
        <label>6</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Bandler J.W., Salama A.E. Fault diagnosis of analog circuits. Proceedings of the IEEE. 1985;73(8):1279–1325. https://doi.org/10.1109/PROC.1985.13281</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit7">
        <label>7</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Поляк Б.Т. Введение в оптимизацию. Москва: Наука. Главная редакция физико-математической литературы; 1983. 384 с.</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit8">
        <label>8</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Коптяев Д.С. Использование алгоритма имитации отжига в задачах поиска. В сборнике: Конкурентоспособность территорий: Материалы XXIII Всероссийского экономического форума молодых ученых и студентов: Часть 3, 27–30 апреля 2020 года, Екатеринбург, Россия. Екатеринбург: Уральский государственный экономический университет; 2020. С. 76–78.</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit9">
        <label>9</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Колесникова А.Г., Матвеев В.В. Использование компьютерного моделирования в среде Matlab/Simulink в рамках инженерного образовательного курса. Известия Тульского государственного университета. Педагогика. 2024;(4):39–45.</mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="cit10">
        <label>10</label>
        <mixed-citation xml:lang="ru">Илюшин М.В., Кирюшин Д.Д. Имитационное моделирование радиоканала передачи цифрового сигнала в Matlab Simulink. В сборнике: Современные технологии в науке и образовании – СТНО-2024: Сборник трудов VII Международного научно-технического форума: Том 1, 04–06 марта 2024 года, Рязань, Россия. Рязань: Рязанский государственный радиотехнический университет им. В.Ф. Уткина; 2024. С. 60–63.</mixed-citation>
      </ref>
    </ref-list>
    <fn-group>
      <fn fn-type="conflict">
        <p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p>
      </fn>
    </fn-group>
  </back>
</article>