В работе предложена методика обоснования электродинамических и конструктивных параметров материалов волноводного типа, основанная на разработанной модели поглощения СВЧ-излучения на импедансных стенках и диэлектрическом наполнителе конструкционных поглощающих материалов замкнутых волноводных структур. Сущность модели, основанной на методах теории дифракции электромагнитных волн в слоистых средах, законах распространения сверхвысокочастотного излучения в волноводах, заключается в том, что электромагнитное поле перед решеткой рассматривается в виде суперпозиции полей падающей плоской волны, зеркально отраженной от границы раздела «среда – материал», и рассеянной на стенках решетки материала. Электромагнитная волна, падающая на материал, по мере распространения вглубь него взаимодействует с радиопоглощающими стенками. Предложен подход определения коэффициента отражения материала, особенностью которого является то, что в выражение для расчета коэффициента отражения введено слагаемое, описывающее экспоненциальное снижение уровня амплитуды (плотности потока мощности) рассеянной составляющей электромагнитного поля при распространении ее вглубь материала и обратно от конструктивных и электродинамических параметров импедансных стенок и диэлектрического наполнителя замкнутых волноводных структур (закороченных волноводных отрезков), и позволяющий установить закономерности между отражательными характеристиками конструкционного поглощающего материала и его электродинамическими и конструктивными параметрами.
The paper proposes a method for substantiating the electrodynamic and structural parameters of waveguide-type materials, based on the developed model for the absorption of microwave radiation on impedance walls and the dielectric filler of structural absorbing materials of closed waveguide structures. The essence of the model, based on the methods of the theory of diffraction of electromagnetic waves in layered media, the laws of propagation of microwave radiation in waveguides, is that the electromagnetic field in front of the grating is considered as a superposition of the fields of the incident plane wave, mirrored from the “medium-material” interface, and scattered on the walls of the lattice material. An electromagnetic wave incident on the material, as it propagates deep into it, interacts with radio-absorbing walls. An approach is proposed for determining the reflection coefficient of a material, a feature of which is that a term is introduced in the expression for calculating the reflection coefficient describing an exponential decrease in the amplitude level (power flux density) of the diffuse component of the electromagnetic field when it propagates deep into the material and back impedance walls and dielectric filler of closed waveguide structures (shortcircuited waveguide segments), and allowing becoming patterns between reflection characteristics of the structural material and the absorbent electrodynamic and design parameters.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.