Ключевые слова: управление, микроэлектронная промышленность, контроль параметров, .
ПРОБЛЕМАТИКА КОНТРОЛЯ И УПРАВЛЕНИЯ ПАРАМЕТРАМИ МИКРОКЛИМАТА В МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
УДК 681.2-5
DOI: 10.26102/2310-6018/2019.25.2.016
В настоящее время всё большее внимание при стратегическом планировании развития промышленности в России уделяется предприятиям, работающим в сфере микроэлектроники. Подтверждением тому является большое число проводимых конференций, форумов и встреч на самом высоком государственном уровне по проблемам развития микроэлектроники в России. Основная часть предприятий, выпускающих микроэлектронную продукцию, начинали свою работу еще в советское время. То есть на сегодня имеются производственные цеха, которые по своим размерам и характеристикам не совпадают с современными производственными линиями выпуска микроэлектронной продукции. В статье приводится влияние параметров микроклимата на качество выпускаемой продукции. Рассматриваются как характеристики воздуха, поступающего и удаляемого из помещений, так и электростатические характеристики, несомненно оказывающие влияние на производство микроэлектроники и часто приводящие к браку, а также параметры воды, используемой в производстве. Результатом обзора существующего на сегодня в микроэлектронной промышленности уровня управления описанными выше параметрами является формулирование проблематики – отсутствие системного подхода при постановке технического задания, разработки всех стадий проекта и реализации строительства или реконструкции предприятий микроэлектронной промышленности в ключе управления параметрами микроклимата цеха, электростатическими параметрами и характеристиками промышленной воды и газа.
Ключевые слова: управление, микроэлектронная промышленность, контроль параметров, .
Для цитирования: Гусев К.Ю., Жильцов Д.В., Бурковский В.Л., Гусев П.Ю. ПРОБЛЕМАТИКА КОНТРОЛЯ И УПРАВЛЕНИЯ ПАРАМЕТРАМИ МИКРОКЛИМАТА В МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ. Моделирование, оптимизация и информационные технологии. 2019;7(2). URL: https://moit.vivt.ru/wp-content/uploads/2019/05/Gusev2Soavtori_2_19_1.pdf DOI: 10.26102/2310-6018/2019.25.2.016
Опубликована 30.06.2019